OS-120 (S32) 薄膜X線回折装置 リガク Ultima IV
X-Ray diffraction system
特徴
粉末試料、薄膜試料が測定可能な水平試料型X線回折装置
薄膜インプレーンスキャンによる面内構造解析が可能
試料交換、スリット等の交換も容易
仕様
定格出力：1.6kW(40kV,40mA)
試料ステージサイズ：10cmφ 2θ/θ
インプレーン測定が可能
設置場所：S-315
装置番号：S32
ARIM装置番号：OS-120
