OS-125 (N32) 走査型プローブ顕微鏡(E-sweep) 日立ハイテクサイエンス AFM5000/AFM5300E
scanning probe microscope
特徴
AFM,c-AFM,STM,DFM,MFM,KFM,PRM,電流マッピング,SNDNなどが測定可能な走査型プローブ顕微鏡
温度制御、調湿制御機構を備えており、真空下での測定も可能
500ｍTの磁場が試料水平方向に印加可能
仕様
試料サイズ：15mmφ
温度制御：-120～300℃
調湿制御：30～70％
真空中測定：10E-4Paまで可能
磁場印加：試料水平方向に500ｍT
設置場所：N-321
装置番号：N32
ARIM装置番号：OS-127
