利用申請（計測・分析分野）

大阪大学超高圧電子顕微鏡センターの「計測・分析分野」の利用をご希望の方は、下記の利用申請書をダウンロードし、必要事項をご記入のうえ、下記申請フォームまでご提出ください。ご利用にあたっては、必ず利用規程（約款）を事前にご確認ください。

• ARIM 計測・分析分野の利用規程（PDF）
• 利用負担金（PDF）
• 大阪大学マテリアル先端リサーチインフラ設備供用拠点設置要項（PDF）
• 超高圧電子顕微鏡センターの装置利用に関する規程（PDF）
• データ提供について（PDF）

初めてご利用の方

研究分野などの資料をもとに利用相談（オンライン、対面）をおこないますので、支援内容説明書またはお手持ちの説明資料などを併せて下記申請フォームまでお送りください。

学内の方

下記の「利用申請書」と「利用内容説明書」をダウンロードのうえ、必要事項をご記入いただき、下記申請フォームまでお送りください。ご提出いただいた書類をもとに、後日、利用相談を実施いたします。
なお、前年度からの継続課題の場合は、「利用申請書」のみご提出ください（新たな利用相談は不要です）。

• 超高圧電子顕微鏡センター利用申請書（docx）
• 超高圧電子顕微鏡センター利用内容説明書（pptx）

学外の方

下記４点をご準備いただき、下記申請フォームまでお送りください。
※件名「ARIM計測･分析分野支援利用申込」としてご送付ください。

1. 超高圧電子顕微鏡センター利用申請書（docx）
2. ARIM計測･分析分野 支援利用申請書(docx)
3. ARIM計測･分析分野 利用者リスト(xlsx)
4. ARIM計測･分析分野 支援内容説明書(pptx)

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